測厚儀分類講解相同及不同點

涂層測厚儀：主要采用的是電磁感應法來測量涂層的厚度。涂層測厚儀會在部件表面的探頭處產生一個閉合的磁回路，伴隨著探頭與鐵磁性材料之間距離的變化，該磁回路將會發(fā)生不同程度的改變，因此會引起磁阻及探頭線圈電感的變化。
超聲波測厚儀：這種測厚儀是根據超聲波脈沖反射的原理來對物體厚度進行測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖會發(fā)生反射而返回探頭，通過測量超聲波在材料中傳播的時間，來計算被測材料的厚度。
X射線測厚儀：此類測厚儀利用的是當X射線穿透被測材料時，X射線強度的變化與材料厚度相關聯的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。
激光測厚儀：此類測厚儀是利用激光的反射原理，根據光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產品的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器。
測厚儀是一類用來測量材料及物體厚度的儀表，在工業(yè)生產中常用來連續(xù)或抽樣測量產品的厚度。測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。專業(yè)適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量。